Michał JÓZWIK, Maciej TRUSIAK, Piotr ZDAŃKOWSKI, Maria CYWIŃSKA, Emilia WDOWIAK
Politechnika Warszawska, Wydział Mechatroniki, Instytut Mikromechaniki i Fotoniki, ul. św. A. Boboli 8, 02-525 Warszawa
Interferometr Linnika [1] jest zmodyfikowaną wersją interferometru Michelsona. Znajduje on szerokie zastosowanie w obszarze metrologii wymiarowej do pomiarów struktury powierzchni w dużym powiększeniu (np. wzorce struktury geometrycznej powierzchni, wzorce wysokości i głębokości schodka, wzorce chropowatości powierzchni). Zalety techniki pomiaru i konstrukcji interferometru Linnika zostały zauważone również w obszarze badań biologicznych dołączając do technik ilościowej mikroskopii fazowej (QPI) [2]. W odróżnieniu od klasycznych podejść QPI, interferometr Linnika pozwala na pomiary w trybie odbiciowym stając się konkurentem dla metod detekcji konfokalnej przy badaniach grubych skrawków tkanek umożliwiając rekonstrukcję współczynnika załamania nawet silnie rozpraszających próbek.
Użycie nowych rozwiązań technicznych (niskokoherentnych źródeł światła, kamer polaryzacyjnych) oraz zastosowanie zaawansowanych algorytmów przetwarzania obrazów prążkowych umożliwia prowadzenie pomiarów także na trudnych obiektach i z większą dokładnością. Komunikat zawiera przykłady pomiarów zrealizowanych w rozwijanych interferometrach Linnika na obiektach technicznych (np. schodkowy wzorzec o małej głębokości, Rys.1a) oraz na obiektach biologicznych (wstępny wynik obrazowania komórek HeLa, Rys. 1b). W obu zastosowaniach obserwuje się zmniejszony szum oraz zwiększony kontrast w postaci lepszego uwidocznienia szczegółów badanych próbek.
Praca naukowa dofinansowana ze środków budżetu państwa w ramach programu Ministra Edukacji i Nauki pod nazwą Polska Metrologia nr projektu PM/SP/0008/2021/1, kwota dofinansowania 572 000,00 zł, całkowita wartość projektu 572 000,00 zł.
Literatura
[1] P. Kühnhold, W. Xie, P. Lehmann, P. Comparison of Michelson and Linnik interference microscopes with respect to measurement capabilities and adjustment efforts. Proceedings of SPIE 8788 (2013) 87882G.
[2] M. Rogalski, M. Cywińska, A. Ahmad, K. Patorski, V. Micó, B. S. Ahluwalia, M. Trusiak, Hilbert phase microscopy based on pseudo thermal illumination in the Linnik configuration, Optics Letters 47 (2022) 5793-5796.